Optimierung Maschineller Lernalgorithmen in der Virtuellen Messtechnik: Analyse und Optimierung von Algorithmen des Maschinellen Lernens in der Virtuellen Messtechnik
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9783330512863 - Leicht, Carolin: Optimierung Maschineller Lernalgorithmen in der Virtuellen Messtechnik
Leicht, Carolin

Optimierung Maschineller Lernalgorithmen in der Virtuellen Messtechnik

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Die Halbleitertechnik ist ein anspruchsvoller Industriezweig. In komplexen Verfahren müssen Prozessschritte mit höchster Präzision durchgeführt werden. Um Produktionsstabilität zu gewährleisten, sind regelmäßige Messungen und Prozesskontrollen essenziell. Trotzdem werden fehlerhafte Wafer mitunter erst in abschließenden Tests erkannt, sodass durch die fortgeführte Produktion unnötige Ressourcen verschwendet wurden. Eine Messung aller Wafer könnte dies verhindern, ist jedoch aufgrund hoher Kosten Die Halbleitertechnik ist ein anspruchsvoller Industriezweig. In komplexen Verfahren müssen Prozessschritte mit höchster Präzision durchgeführt werden. Um Produktionsstabilität zu gewährleisten, sind regelmäßige Messungen und Prozesskontrollen essenziell. Trotzdem werden fehlerhafte Wafer mitunter erst in abschließenden Tests erkannt, sodass durch die fortgeführte Produktion unnötige Ressourcen verschwendet wurden. Eine Messung aller Wafer könnte dies verhindern, ist jedoch aufgrund hoher Kosten nicht praktikabel. Das ist der Ausgangspunkt der Virtuellen Messtechnik, die eine Überwachung aller Wafer nach jedem Prozessschritt ermöglicht. Dazu werden Prozessergebnisse durch hoch entwickelte Algorithmen berechnet und basierend auf historischen Messungen sowie den aktuellen Prozessdaten vorhergesagt. In dieser Arbeit werden Algorithmen des Maschinellen Lernens analysiert, optimiert und implementiert, um funktionale Abhängigkeiten zwischen Prozessparametern und -ergebnissen zu modellieren und somit Vorhersagen berechnen zu können. Dadurch wird eine beachtliche Reduzierung der Produktionskosten bei gleichzeitiger Verbesserung der Prozessstabilität und -qualität ermöglicht. Lieferzeit 1-2 Werktage.
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Die Halbleitertechnik ist ein anspruchsvoller Industriezweig. In komplexen Verfahren müssen Prozessschritte mit höchster Präzision durchgeführt werden. Um Produktionsstabilität zu gewährleisten, sind regelmäßige Messungen und Prozesskontrollen essenziell. Trotzdem werden fehlerhafte Wafer mitunter erst in abschließenden Tests erkannt, sodass durch die fortgeführte Produktion unnötige Ressourcen verschwendet wurden. Eine Messung aller Wafer könnte dies verhindern, ist jedoch aufgrund hoher Kosten nicht praktikabel. Das ist der Ausgangspunkt der Virtuellen Messtechnik, die eine Überwachung aller Wafer nach jedem Prozessschritt ermöglicht. Dazu werden Prozessergebnisse durch hoch entwickelte Algorithmen berechnet und basierend auf historischen Messungen sowie den aktuellen Prozessdaten vorhergesagt. In dieser Arbeit werden Algorithmen des Maschinellen Lernens analysiert, optimiert und implementiert, um funktionale Abhängigkeiten zwischen Prozessparametern und -ergebnissen zu modellieren und somit Vorhersagen berechnen zu können. Dadurch wird eine beachtliche Reduzierung der Produktionskosten bei gleichzeitiger Verbesserung der Prozessstabilität und -qualität ermöglicht.
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9783330512863 - Carolin Leicht: Optimierung Maschineller Lernalgorithmen in der Virtuellen Messtechnik - Analyse und Optimierung von Algorithmen des Maschinellen Lernens in der Virtuellen Messtechnik
Carolin Leicht

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Optimierung Maschineller Lernalgorithmen in der Virtuellen Messtechnik: Die Halbleitertechnik ist ein anspruchsvoller Industriezweig. In komplexen Verfahren müssen Prozessschritte mit höchster Präzision durchgeführt werden. Um Produktionsstabilit?t zu gewährleisten, sind regelmäßige Messungen und Prozesskontrollen essenziell. Trotzdem werden fehlerhafte Wafer mitunter erst in abschließenden Tests erkannt, sodass durch die fortgeführte Produktion unnötige Ressourcen verschwendet wurden. Eine Messung aller Wafer könnte dies verhindern, ist jedoch aufgrund hoher Kosten nicht praktikabel. Das ist der Ausgangspunkt der Virtuellen Messtechnik, die eine Überwachung aller Wafer nach jedem Prozessschritt ermöglicht. Dazu werden Prozessergebnisse durch hoch entwickelte Algorithmen berechnet und basierend auf historischen Messungen sowie den aktuellen Prozessdaten vorhergesagt. In dieser Arbeit werden Algorithmen des Maschinellen Lernens analysiert, optimiert und implementiert, um funktionale Abhängigkeiten zwischen Prozessparametern und -ergebnissen zu modellieren und somit Vorhersagen berechnen zu können. Dadurch wird eine beachtliche Reduzierung der Produktionskosten bei gleichzeitiger Verbesserung der Prozessstabilität und -qualität ermöglicht. Taschenbuch.
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3330512865 - Optimierung Maschineller Lernalgorithmen in der Virtuellen Messtechnik

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Optimierung Maschineller Lernalgorithmen in der Virtuellen Messtechnik ab 49.9 EURO Analyse und Optimierung von Algorithmen des Maschinellen Lernens in der Virtuellen Messtechnik.
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Carolin Leicht

Optimierung Maschineller Lernalgorithmen in der Virtuellen Messtechnik: Analyse und Optimierung von Algorithmen des Maschinellen Lernens in der Virtuellen Messtechnik (2017)

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9783330512863 - Leicht, C: Optimierung Maschineller Lernalgorithmen in der V
Leicht, C

Optimierung Maschineller Lernalgorithmen in der V

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