Textur- und Spannungsanalyse an dünnen epitaktischen Diamantschichten auf Silizium. - Aus: Fortschritt-Berichte VDI.
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Geier, Stephan.

Textur- und Spannungsanalyse an dünnen epitaktischen Diamantschichten auf Silizium. - Aus: Fortschritt-Berichte VDI. (1996)

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ISBN: 3183223090 bzw. 9783183223091, in Deutsch, Düsseldorf. VDI Verlag.1996. gebraucht.

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Reihe 9: Elektronik. Nr. 223. 21 x 15 cm. VII, 139 S. Original Broschiert. ISBN 3-18-322309-0 Leicht angegilbt. Mit Abbildungen. - Sehr sauberes Exemplar. ISBN 3-18-322309-0, Original Broschiert. 500g, Internationaler Versand, offene Rechnung (Vorkasse vorbehalten), PayPal, Banküberweisung.
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Modernes Antiquariat. - Physik. - Geier, Stephan.

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