Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme - 8 Angebote vergleichen
Bester Preis: € 71,31 (vom 02.05.2019)Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme
ISBN: 9783658221775 bzw. 3658221771, vermutlich in Deutsch, neu.
Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung. 1. Aufl., 275 farbige Abbildungen, 208 Schwarz-Weiß-Abbildungen.
Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme
ISBN: 9783658221775 bzw. 3658221771, in Deutsch, Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH, neu.
Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung. gebundene Ausgabe, 25.01.2020.
Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme
ISBN: 9783658221775 bzw. 3658221771, vermutlich in Deutsch, https://d3k2uuz9r025mk.cloudfront.net/media/image/90/41/1a/9783658221775_1280x1280.jpg.
Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme
ISBN: 9783658221775 bzw. 3658221771, in Deutsch, Springer, gebundenes Buch, neu.
Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung. 08.03.2020, gebundene Ausgabe.
Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme: Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung Titu-Marius I. Bajenescu Au
ISBN: 9783658221775 bzw. 3658221771, vermutlich in Deutsch, Springer Fachmedien Wiesbaden, gebundenes Buch, neu.
Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.
Zuverlässige Bauelemente Für Elektronische Systeme: Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung
ISBN: 9783658221775 bzw. 3658221771, vermutlich in Deutsch, neu.
Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.
Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme
ISBN: 9783658221775 bzw. 3658221771, vermutlich in Deutsch, Springer, Berlin; Springer Fachmedien Wiesbaden, neu.
Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.
Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme (2020)
ISBN: 9783658221775 bzw. 3658221771, vermutlich in Deutsch, Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH, gebundenes Buch, neu, Erstausgabe.
Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung, Buch, Hardcover, 1. Aufl. 2020.